SYKAM S 3250 UV/Vis 검출기는 사용자의 목적과 예산에 맞는 시스템 구성을 통해 최적의 사용 경험을 제공합니다.
가장 기본적으로 1 파장 검출 시스템부터 2 파장 및 실시간 온라인 스캔 시스템까지 구성할 수 있습니다.
S 3250 UV/Vis 검출기는 가장 기본적인 Fraction Collector 기능에 요구되는 피크 검출 및 적분 기능을 포함하고 있습니다.
이는 사용자의 목적과 편의에 맞게 프로그래밍 가능하며 이를 통해 분주 대상 물질의 순도 및 회수율을 설정할 수 있습니다.
이러한 피크 검출 기능은 외부 밸브 작동 등을 위해12, 24 V 출력을 통해 외부 신호로 내보낼 수 있습니다.
S 3250은 다양한 옵션 기능을 제공합니다.
이중 파장 동시 검출 기능과 미지의 분석물에 최적화된 파장을 선별하는 온라인 스캔 기능을 추가할 수 있습니다.
이를 통해 최대 두개의 파장을 동시에 검출해 분석의 효율을 높힐 수 있습니다.
또한 사용하는 시스템 및 컬럼의 종류에 대응하여 검출셀 역시 변경 가능합니다.
보편적으로 사용되는 4.0 ~ 4.6 mm 내경의 표준 컬럼부터 2.0 ~ 1.0 mm 내경의 microbore 컬럼 및 0.5 mm 이하의 내경 컬럼 등에 대응해 다양한 검출 셀과 재질을 선택할 수 있습니다.
다음은 대표적인 주문 예시입니다.
| Catalog No | Instrument Description | Notes |
| S000172 | S 3250 UV/Vis Detector, 1-Channel | 1-Channel |
| S000193 | S 3250 UV/Vis Detector, 2-Channel | 2-Channel |
| S000196 | S 3250 UV/Vis Detector, 1-Channel, Scan | 1-Channel, scan option |
| S000173 | S 3245 / S 3250 Flowcell | ss*, analytical |
| S000203 | S 3245 / S 3250 Flowcell | PEEK, analytical |
| S001741 | S 3245 / S 3250 Flowcell | ss*, micro |
| S005562 | S 3245 / S 3250 Flowcell | PEEK, micro |
| S000205 | S 3245 / S 3250 Flowcell | ss*, preparative |
| S000204 | S 3245 / S 3250 Flowcell | PEEK, preparative |
Sykam S 3250 UV/Vis 검출기의 장비 규격은 다음과 같습니다.
| 항목 | 상세 내용 |
| Wetted Materials | Stainless Steel / PEEK* |
| Baseline Noise | ± 1 x 10-5 AU at240 nm, 2 sec.Risetime |
| Baseline Drift | < 0.3 mAU/h |
| Wavelength Range | 190 – 800 nm |
| Wavelength Accuracy | ± 2 nm |
| Linearity | > 2.0 AU |
| Light Source | Deuterium Lamp, LED Lamp |
| Wavelength Program | Programmable, 10 steps |
| Analog Output | 1x 1 V(optional: 2x 1V) |
| Control Features | Internal Peak Detector with + 24 V Solenoid switching output |
| Dimensions | 396 x 165 x 478 mm |
| (W x H x D) | |
| Power Supply | 100 ~ 250 V ( 47 ~ 63 Hz) |
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